在半导体业界,led高温老化器件的老化问题一直存在各种争论。像其它产品一样,半导体随时可能因为各种原因而出现故障,老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现,避免在使用早期发生故障。如果不藉由老化,老化测试房,很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。
老化箱在温度上的一些指标和范围。
旧标准称均匀度,新标准称梯度。温度稳定后,在任意时间间隔内,工作空间内任意两点的温度平均值之差的值。这个指标比下面的温度偏差指标更可以考核产品的技术,因此好多公司的样本及方案刻意隐藏此项。
一般标准要求指标为≤2℃,但客观地说,纯高温试验箱要求在200℃以上仍保持均匀度≤2℃对用户也是不经济的。
温度稳定后,在任意时间间隔内,工作空间中心温度的平均值和工作空间内其它点的温度平均值之差。虽然新旧标准对此指标的定义和称呼相同,但检测已有所改变,新标准更实际,更苛刻一点,但考核时间短点
一般标准要求指标为±2℃,纯高温试验箱200℃以上可按实际使用温度摄氏度(℃)±2%要求。
台资的指标中没有---称呼的温度均匀度和温度偏差,老化测试房定做,近似的是温度分布均匀度,英文单词也不同,老化测试房厂家,样本指标为±0.5℃、±1℃、±1.5℃等。希望对台标了解的朋友解释一下。
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固态硬盘(solid state drives),简称固盘,固态硬盘(solid state drive)用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘,由控制单元和存储单元(flash芯片、dram芯片)组成。固态硬盘在接口的规范和定义、功能及使用方法上与普通硬盘的完全相同,在产品外形和尺寸上也完全与普通硬盘一致。被广泛应用于车载、工控、视频监控、网络监控、网络终端、电力、航空、导航设备等领域。
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